оборудование для
лаборатории и производства

Москва: +7 (495) 625-62-19
Екатеринбург: +7 (343) 376-25-75

Меню
Меню
Меню

SPECTRO MIDEX

Производитель:

Микро-XRF спектрометр для элементного анализа: в точке, сканирование линий и площадей

  • Контроль содержания вредных веществ в электронных компонентах и блоках (RoHS)
  • Анализ маленьких образцов и включений в образцах для автомобильной и аэрокосмической промышленности
  • Анализ ювелирных изделий и сплавов драгоценных металлов
  • Экспертизы в криминалистике
  • Множество других задач, где требуется маленькое пятно анализа или необходимо выяснить распределение элементов на образце большой площади.

Отличительные особенности спектрометра SPECTRO MIDEX:

  • Точный элементный анализ твердых и порошковых проб от Mg до U в точке, диаметр пятна анализа от 0.2 до 4 мм
  • Режим «Большая дистанция» позволяет анализ образцов неправильной формы
  • Быстрое сканирование больших областей
  • Большая камера проб для разнообразных проб
  • SDD детектор высокого разрешения с большой активной площадью
  • Готовые калибровки по запросу
  • Простота эксплуатации и минимальное техническое обслуживание
  • Сертификат ГОССТАНДАРТ, русифицированное программное обеспечение

Параметр

Описание характеристик

Размеры и вес
  • Высота 750 mm
  • Ширина 580 mm
  • Глубина 670 mm
  • Масса 55 — 70 кг в зависимости от конфигурации
Технические данные
  • Номинальное напряжение 95 — 120 V/ 200 −240 V, 50/60Hz
  • Мощность 200 W (без управляющего компьютера)
  • Мощность в режиме ожидания 70 W
  • Предохранитель 16 A (медленный)
  • Рабочая температура + 5 °C — + 30 °C
  • Рекомендуемая рабочая температура + 20 °C — + 25 °C
  • Влажность 10 — 80 % (без конденсации) при 25 °C