Микро-XRF спектрометр для элементного анализа: в точке, сканирование линий и площадей

• Контроль содержания вредных веществ в электронных компонентах и блоках (RoHS)
• Анализ маленьких образцов и включений в образцах для автомобильной и аэрокосмической промышленности
• Анализ ювелирных изделий и сплавов драгоценных металлов
• Экспертизы в криминалистике
• Множество других задач, где требуется маленькое пятно анализа или необходимо выяснить распределение элементов на образце большой площади.

Отличительные особенности спектрометра SPECTRO MIDEX:

• Точный элементный анализ твердых и порошковых проб от Mg до U в точке, диаметр пятна анализа от 0.2 до 4 мм
• Режим «Большая дистанция» позволяет анализ образцов неправильной формы
• Быстрое сканирование больших областей
• Большая камера проб для разнообразных проб
• SDD детектор высокого разрешения с большой активной площадью
• Готовые калибровки по запросу
• Простота эксплуатации и минимальное техническое обслуживание
• Сертификат ГОССТАНДАРТ, русифицированное программное обеспечение